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PCT高壓加速壽命老化試驗(yàn)箱和HAST高壓加速壽命老化試驗(yàn)箱主要用于測試半導(dǎo)體封裝的吸濕能力。當(dāng)被測產(chǎn)品在惡劣的溫度、濕度和壓力下進(jìn)行測試時(shí)，水分會(huì)沿著膠體或膠體與引線框架的界面滲入封裝。廣泛應(yīng)用于EVA膠水、TPT薄膜、光伏玻璃、PCB電路板、多層電路板、ic半導(dǎo)體、LCD光學(xué)器件、電子元器件。測試塑料包裝設(shè)備/材料、磁鐵/磁性材料等的密封性能。、測試耐壓、氣密性、失重試驗(yàn)、飽和穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)、加速老化篩選試驗(yàn)、光伏組件高可靠性和壽命加速試驗(yàn)。

隨著工業(yè)化對(duì)器件可靠性的要求越來越高，目前大部分器件能夠經(jīng)受長時(shí)間THB(雙85，雙95)測試而不失效，因此用于判定成品質(zhì)量的測試時(shí)間也相應(yīng)增加。為了提高測試效率，減少測試時(shí)間，采用了新的PCT和USPCT(HAST)。現(xiàn)在高壓加速壽命老化試驗(yàn)箱試驗(yàn)被IEC(國際電工委員會(huì))標(biāo)準(zhǔn)化為濕熱加速試驗(yàn)。注意:USPCT現(xiàn)在叫做HAST(高加速壓力測試)。經(jīng)過長期客戶跟蹤對(duì)比，121°C/1kg/cm2/%測試1小時(shí)相當(dāng)于雙85、雙95測試250小時(shí)左右。

常見的失效模式有有源金屬化區(qū)域腐蝕導(dǎo)致的開路，或污染導(dǎo)致的封裝引腳間短路等。

加速壽命試驗(yàn)的目的是增加環(huán)境應(yīng)力(如溫度)和工作應(yīng)力(如施加在產(chǎn)品上的電壓和負(fù)載)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。

那么PCT高電壓加速壽命老化試驗(yàn)箱和HAST高電壓加速壽命老化試驗(yàn)箱有什么區(qū)別呢？為方便客戶選擇，中天儀器做如下簡單描述，希望能幫助客戶選擇:

PCT加速壽命老化試驗(yàn)箱的主要作用是:壓力是溫度對(duì)應(yīng)的飽和壓力顯示，濕度也是溫度對(duì)應(yīng)的飽和蒸汽壓力。也就是說，測試溫度是隨著用戶的測試條件確定的，飽和蒸汽壓力和飽和蒸汽濕度也是確定的。溫度對(duì)應(yīng)的飽和蒸汽壓力有對(duì)應(yīng)關(guān)系。請(qǐng)參考下表對(duì)應(yīng)關(guān)系:

溫度和壓力對(duì)照表(壓力為表壓，即產(chǎn)品的實(shí)際測試壓力)

HAST高壓加速壽命老化試驗(yàn)箱的主要作用是:溫度、壓力、濕度可以隨用戶的試驗(yàn)條件任意設(shè)定，不受飽和蒸汽壓力和飽和蒸汽濕度的影響，即不飽和控制。也就是說，可以根據(jù)用戶的測試條件任意設(shè)置測試溫度、壓力和濕度。這時(shí)就會(huì)出現(xiàn)一個(gè)問題:非飽和狀態(tài)下濕度的準(zhǔn)確性。中天儀器使用的濕度檢測裝置是通過干濕球?qū)Ρ?，根?jù)試驗(yàn)箱內(nèi)的真實(shí)環(huán)境來顯示和控制的，不是通過換算關(guān)系來顯示和控制的，所以其準(zhǔn)確性是有保證的。